APPLICATION NOTE II(국문)

주사전자현미경(Scanning Electron Microscope)은미세조직과형상을관찰할때쓰이는분석기기로서초점 심도가깊고 3차원적인영상의관찰이용이하여복잡한표면구조나결정, 외형등의입체적인형상을높은배율로 관찰할수있는정밀기기입니다. 최근에는다양한검출기를장착하여시료에대한복합적인정보를얻을수있기 때문에연구및산업분야에서그활용도가급증하고있습니다. (주)코셈에서제공하는본어플리케이션노트는분석용도에맞는최적화된기능과그응용방법을제시함으로써 다양한분야의연구자가보다효율적이고, 최대의연구효과를낼수있는최고의가이드가될것입니다. II www.coxem.com