APPLICATION NOTE II(국문)

WINDOWTO THE NANOWORLD with COXEM 12. Application of Scanning Transmission ElectronMicroscopy(STEM) INTRODUCTION STEM은 전자총에서 발생된 전자 빔을 시료에 주사하여 시료를 투과한 전자를 통해 이미지를 형성하는 분석법입니다. 주로 셀(Cell) 혹은조직(Structure)과나노구조물관찰에활용됩니다. 명시야(BF, Bright Field)이미지는광축상에검출기를배치하여투과전자를검출하면서, 시료표면에서수집된신호와동기화한 2차원적이미지입니다. 주로시료용적(Bulk)의구조형태에대한정보를관찰하는데용이합니다. 1) Bright Field Mode 암시야(DF, Dark Field)이미지는 고 각도 산란영역에 도넛 형태의 검출기를 배치하여 전자 빔을 받지 않는 이미지입니다. 주로 상세하게구조를보기어려울때, 또는결함구조를관찰할때사용됩니다. 2) Dark Field Mode 경원소분석에영향을미치지않는 STEM Holder를적용하여보다정확한경원소성분분석이가능합니다. 3) STEM with EDS Mode 석면(1) 대장세포 뉴런(1) 석면(2) 대장암세포 뉴런(2) Benefits SEM을기반으로한코셈의 STEM은 TEM기반의 STEM에서는제한적인 대면적관찰이가능하기때문에 비교적낮은배율에서넓은영역을 관찰할때유용하게활용됩니다. Analysis Solution for: 모든분야에서사용됩니다. Operation 코셈전용시료홀더를사용하여 이미지를확인합니다. 이때시료의 손상을최소화하기위하여저진공 모드를사용하면효과적입니다. 아래의이미지는코셈의 STEM을 통해분석한이미지입니다. 16