APPLICATION NOTE II(국문)

www.coxem.com - 여러층으로구성된시료를추가전처리과정없이 X-Ray를이용하여두께를확인합니다. - 여러성분으로구성되어있는광물시료는Mapping 분석으로성분분포도를확인할수있습니다. 5) Multi Layer Analysis 시료의전체성분분포를확인하는데유리합니다. Analysis Solution for: -Material Industries -Semiconductors and Electronics Industries Benefits Analysis Solution for: - Sandstone Industries Benefits 6) Mineral Map Analysis < 반도체시료의다층분석결과예시 > < 광물시료Mapping 결과예시 > 21