종합 카달로그-국문

이온빔으로 연마한 단면 이미지는 자르거나 기계 연마된 샘플의 이미지에 비해 보다 정교하고 깔끔하게 연마됨을 알 수 있습니다. 열에 취약한 시료를 분석할 경우, -20ºC까지 냉각이 가능한 Peltier-type cooling stage를 사용하여 시료의 열 손상 위험을 최소화할 수 있습니다. 시료가 대기 중에서 변형되기 쉬운 경우, Air protection 옵션 사용을 제안합니다. 이 옵션을 사용하면 대기에 노출되지 않고 샘플의 밀링부터 이미지 분석까지 완료할 수 있습니다. Fractured Milling condition : 4kV1h Milling condition : 4kV1h -20 ℃ Battery Mechanical polishing Ion Beam polishing Ion beam polishing Cooling module Air-protection module 16 17 www.coxem.com